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紅外熱像儀在LED行業(yè)中的主要應(yīng)用點(diǎn)
2012-10-22
紅外熱像儀在LED行業(yè)中的主要應(yīng)用點(diǎn)
事實(shí)上，LED的實(shí)際壽命與工作溫度往往成反比，如LED使用壽命在工作溫度為74℃為10000小時(shí)、63℃為25000小時(shí)，小于50℃時(shí)，則可為50000小時(shí)。根本原因是LED的光電轉(zhuǎn)換效率極差，大約只有15%至20%左右電能轉(zhuǎn)為光輸出，其余均轉(zhuǎn)換成為熱能，因此，當(dāng)大量使用高功率的LED于一塊模組，應(yīng)用于高亮度的操作時(shí)，這些極差的轉(zhuǎn)換效率將造成散熱處理的大問(wèn)題。
紅外熱像儀不僅在研發(fā)過(guò)程中能夠發(fā)揮作用，而且也可以應(yīng)用在產(chǎn)品的品質(zhì)管理等方面
1 . 研發(fā)：主要是對(duì)LED模塊驅(qū)動(dòng)電路(包括電源)、光源半導(dǎo)體發(fā)熱分布分析、及光衰測(cè)試等
LED模塊驅(qū)動(dòng)電路
在LED產(chǎn)品研發(fā)中，需要工程師進(jìn)行一部分驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)，例如整流器電路模塊。利用熱像儀，工程師可以迅速而便捷地發(fā)現(xiàn)電路上溫度異常之處，便于完善電路設(shè)計(jì)。
LED光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱
利用熱像儀，工程師可以通過(guò)光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱紅外熱圖，分析出其芯片在工作時(shí)的溫度，以及溫度的分布情況，在此基礎(chǔ)，達(dá)到提高LED產(chǎn)品壽命的目的。
光衰試驗(yàn)
LED產(chǎn)品的光衰就是光在傳輸中的信號(hào)減弱，而現(xiàn)階段全球的LED大廠(chǎng)們做出的LED產(chǎn)品光衰程度都不相同，大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關(guān)系，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術(shù)決定的。目前，市場(chǎng)上的白光LED其光衰可能是向民用照明進(jìn)軍的首要問(wèn)題之一。
2 . 品質(zhì)管理：燈泡是否均勻，LED芯片封裝前的的溫度情況，LED成品顯示屏的開(kāi)機(jī)測(cè)試等
半導(dǎo)體照明：吹制燈泡均勻性
通過(guò)熱像儀抓拍產(chǎn)線(xiàn)玻璃吹泡的過(guò)程，進(jìn)行參數(shù)修正，改善掐口工藝，可以有效提高產(chǎn)品成品率，降低成本。
LED檢測(cè)芯片封裝前的溫度
LED芯片封裝前檢測(cè)溫度可以避免封裝后因溫度異常，降低廢品率。此階段手不能接觸表面，熱像儀能夠很好的幫助客戶(hù)發(fā)現(xiàn)此處的問(wèn)題，作為流水線(xiàn)檢測(cè)工具。
LED成品顯示屏開(kāi)機(jī)測(cè)試
LED顯示屏完成后，要做最后驗(yàn)收，通過(guò)不同顏色的測(cè)試來(lái)看屏幕是否符合交貨的要求，目前大多數(shù)企業(yè)都沒(méi)有這個(gè)流程。使用熱像儀后，能夠?yàn)閺S(chǎng)家完善產(chǎn)品檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，提高產(chǎn)品質(zhì)量。
紅外熱像儀的獨(dú)特作用
在使用熱像儀前，LED產(chǎn)品企業(yè)一直都沒(méi)有很好的解決這個(gè)問(wèn)題手段或方法。熱像儀能夠發(fā)揮獨(dú)特作用：
a . 通過(guò)紅外熱像儀檢測(cè)目標(biāo)時(shí)，不需要斷電，操作方便，同時(shí)非接觸測(cè)量使原有的溫度場(chǎng)不受干擾;反應(yīng)速度較快 ，小于1毫秒。
b . 除可以拍攝紅外圖像外，還可以同時(shí)捕獲一幅可見(jiàn)光照片，并將其融合在一起，有助于第一時(shí)間識(shí)別和定位故障。
拍攝時(shí)可能會(huì)遇到哪些問(wèn)題：可能由于觀察目標(biāo)較小，使用160×120熱像儀時(shí)，會(huì)發(fā)生很難發(fā)現(xiàn)準(zhǔn)確的故障點(diǎn)，需要我們更換320×240熱像儀(甚至需要更換鏡頭)進(jìn)行檢測(cè)。
如何才能拍攝優(yōu)質(zhì)紅外熱圖？
用熱像儀進(jìn)行拍攝時(shí)，若要得到一幅優(yōu)秀的紅外熱圖，我們建議：
a . 需要分辨較小溫差的場(chǎng)合，盡量選擇熱靈敏度較高的熱像儀；
b . 先用自動(dòng)模式測(cè)量溫度范圍;然后手動(dòng)設(shè)置水平及跨度，將溫度范圍設(shè)置在最小，并包含有先前測(cè)量的溫度范圍。
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