艾克賽普Accexp IGTB/MOS功率循環(huán)老化系統(tǒng)
名稱:電路板PCB測試儀
品牌:
型號:
簡介:艾克賽普AccexpIGTB/MOS功率循環(huán)老化系統(tǒng) 符合標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。 適用范圍:適用于各種封裝形式的大功率IGBT、MOS管功率循環(huán)壽命試驗(yàn)。 技術(shù)特點(diǎn): ① 試驗(yàn)電流ICE / I...
產(chǎn)品型號 | PC–20B08C–TC |
產(chǎn)品名稱 | IGTB/MOS功率循環(huán)老化系統(tǒng)( 中小功率) |
試驗(yàn)腔體 | 2∽8個(gè),水平風(fēng)道,強(qiáng)迫風(fēng)冷,風(fēng)機(jī)轉(zhuǎn)速可調(diào) |
試驗(yàn)通道 | 8個(gè) |
試驗(yàn)容量 | 20×8=160位 |
電源 | 8臺 |
獨(dú)立散熱風(fēng)道 | 8個(gè) |
ON/OFF控制系統(tǒng) | 8套ON/OFF時(shí)間循環(huán)模式或溫度循環(huán)模式可選配 |
驅(qū)動檢測板 | 8塊 |
上位機(jī) | 工業(yè)級電腦主機(jī)、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標(biāo)。 |
基本功能 |
◆試驗(yàn)電流ICE / IDS程控設(shè)定,電流設(shè)定范圍0.5~4.0A; ◆試驗(yàn)電流ICE / IDS、管壓降VCE / VDS等老化參數(shù)上限設(shè)定,老化時(shí)間設(shè)定; ◆ON/OFF時(shí)間、循環(huán)次數(shù)、老化時(shí)間等可設(shè)定; ◆溫度循環(huán)高低點(diǎn)、超溫保護(hù)、超上下保護(hù)模式可設(shè)定; ◆實(shí)時(shí)監(jiān)測顯示老化參數(shù)(ICE / IDS、VCE / VDS、TC)及老化時(shí)間、老化進(jìn)度; ◆實(shí)時(shí)記錄保存老化參數(shù)(ICE / IDS、VCE / VDS、TC) ◆實(shí)時(shí)判斷是否超限,超限報(bào)警并記錄超限工位及超限時(shí)間; ◆老化參數(shù)方便調(diào)用、可生成試驗(yàn)報(bào)表、可繪制相關(guān)變化曲線。 |
電網(wǎng)要求 | 單相AC220V,4KW |
外形尺寸 | WхHхD:140х188х126(cm) |
重量 | 約400kg |
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