反射式在線膜厚測量儀 FTPadv inline NIR
名稱：涂鍍層測厚儀
品牌：
型號：
簡介：FTPadv inline NIR 反射式在線膜厚測量儀FTP反射式在線膜厚測量儀，每個(gè)控制器可支持1-7個(gè)光學(xué)探頭，內(nèi)部具有參考樣品。光譜范圍420-2000nm, 可測量TCO薄膜的膜厚和片狀電阻 廠商名稱： SENTHCH 商品名稱：...
- 產(chǎn)品介紹
FTPadv inline NIR 反射式在線膜厚測量儀FTP反射式在線膜厚測量儀，每個(gè)控制器可支持1-7個(gè)光學(xué)探頭，內(nèi)部具有參考樣品。
光譜范圍420-2000nm, 可測量TCO薄膜的膜厚和片狀電阻
廠商名稱： SENTHCH
商品名稱： 反射式在線膜厚測量儀
商品型號： FTPadv inline NIR
Sensol –M
大面積樣品臺 ，反射式測量R(λ)
玻璃上TCOs薄膜的厚度
吸收層膜厚
iZnO, ZnO:Al, SnO,
a-Si:H, μc-Si:H
CIS 和 CIGS
SenSol H
水平掃描樣品系統(tǒng)用于大玻璃平板
•霧狀
•透射光譜T(λ) 和反射光譜R(λ)
•方塊電阻：非接觸法
•方塊電阻：四探針
•膜厚測量探頭
SenSol V
垂直掃描系統(tǒng)
•絨面
•透射光譜T(λ) 和R(λ)
•片狀電阻Ω：光學(xué)法
•片狀電阻Ω：4探針
•膜厚測量探頭
•Raman 拉曼
•EQE
•I-V
