自動(dòng)大面積太陽(yáng)能電池薄膜垂直測(cè)量系統(tǒng) SenSol V
名稱：涂鍍層測(cè)厚儀
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：SenSol V 自動(dòng)大面積太陽(yáng)能電池薄膜垂直測(cè)量系統(tǒng)自動(dòng)控制大面積垂直掃描，不帶傳感器，電池片尺寸160cmX100cm，兩個(gè)同步傳感器平臺(tái)測(cè)量R反射和T透射玻璃傳輸。 可測(cè)量膜厚、片狀電阻（接觸法/非接觸法）、絨面、禁帶寬度、結(jié)晶態(tài)、內(nèi)...
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- 產(chǎn)品介紹
SenSol V 自動(dòng)大面積太陽(yáng)能電池薄膜垂直測(cè)量系統(tǒng)自動(dòng)控制大面積垂直掃描，不帶傳感器，電池片尺寸160cmX100cm，兩個(gè)同步傳感器平臺(tái)測(cè)量R反射和T透射玻璃傳輸。
可測(cè)量膜厚、片狀電阻（接觸法/非接觸法）、絨面、禁帶寬度、結(jié)晶態(tài)、內(nèi)部量子效率、I(V)曲線
Sensol –M
大面積樣品臺(tái) ，反射式測(cè)量R(λ)
玻璃上TCOs薄膜的厚度
吸收層膜厚
iZnO, ZnO:Al, SnO,
a-Si:H, μc-Si:H
CIS 和 CIGS
SenSol H
水平掃描樣品系統(tǒng)用于大玻璃平板
•霧狀
•透射光譜T(λ) 和反射光譜R(λ)
•方塊電阻：非接觸法
•方塊電阻：四探針
•膜厚測(cè)量探頭
SenSol V
垂直掃描系統(tǒng)
•絨面
•透射光譜T(λ) 和R(λ)
•片狀電阻Ω：光學(xué)法
•片狀電阻Ω：4探針
•膜厚測(cè)量探頭
•Raman 拉曼
•EQE
•I-V
商品名稱： 自動(dòng)大面積太陽(yáng)能電池薄膜垂直測(cè)量系統(tǒng)
商品型號(hào)： SenSol V
