牛津儀器 納米操縱手OmniProbe 350
名稱：其他儀器與工具
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簡(jiǎn)介：牛津儀器 納米操縱手OmniProbe 350是三軸、端口安裝式機(jī)械手，其特點(diǎn)是具有閉環(huán)反饋的壓電馬達(dá)，非常適合常規(guī)的TEM薄片制備。精確直觀的控制意味著您可以快速、自信地工作，而不存在損壞或丟失樣品的風(fēng)險(xiǎn)。 牛津儀器 納米操縱手OmniP...
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- 產(chǎn)品介紹
牛津儀器 納米操縱手OmniProbe 350以其有效性和易于操作和使用而聞名，用戶可以：
- 中和樣品表面富集電荷；
- 測(cè)量納米結(jié)構(gòu)的電學(xué)性能（EBIC，EBAC，電流探測(cè)）；
- 在FIB中進(jìn)行TEM樣品制備，包括平面樣品和背切樣品；
- 在SEM中制被以用于TEM和原子探針觀察；
- 制備用于TEM、EDS及其它分析所需的高質(zhì)量樣品；
- 冷凍提取。
基于第9代探針設(shè)計(jì)，OmniProbe 350提供精確的納米級(jí)控制。其緊湊的端口安裝設(shè)計(jì)，最大限度地減少與其他探測(cè)器和附件的干擾。憑借穩(wěn)定的探針平臺(tái)和亞納米壓電馬達(dá)，這一代的探針具有低振動(dòng)、低漂移和卓越的定位精度。再結(jié)合直觀的用戶界面，其運(yùn)動(dòng)方向是基于所見的圖像進(jìn)行校準(zhǔn)的。
其結(jié)果是為常規(guī)樣品提?。╨ift-out）提供了一流的性能。結(jié)合可變傾角柵網(wǎng)樣品臺(tái)，OmniProbe 350可以輕松制備plan-view樣品和TKD樣品，而無(wú)需手動(dòng)處理柵網(wǎng)或復(fù)雜的多步驟提取。
產(chǎn)品特色
優(yōu)越的線性度
線性度測(cè)量的是探針尖端與要求的運(yùn)動(dòng)方向之間的偏差。在所有方向上可以沿直線移動(dòng)的探針可以：
- 安全的提取，而不會(huì)碰到槽壁
- 制備TEM薄片更快，只需要開挖更小的溝槽
直觀的用戶界面
通過(guò)軟件控件探針就像直接在電子圖像中移動(dòng)
平滑的連續(xù)運(yùn)動(dòng)
薄片制備工作流程要求探針進(jìn)行物理接觸，平滑運(yùn)動(dòng)確保這一過(guò)程不會(huì)有掉落或損壞樣品的風(fēng)險(xiǎn)。
精確移動(dòng)
可存儲(chǔ)位置
- 點(diǎn)擊一下，即可從完全縮回位置移動(dòng)到操作位置
- 保存用戶定義的工作位置
穩(wěn)定的探針平臺(tái)
穩(wěn)定是對(duì)抗振動(dòng)和漂移的。將樣品附著到探針尖端是通過(guò)氣體沉積過(guò)程完成的，該過(guò)程可能需要幾分鐘。在此過(guò)程中，尖端的任何漂移或振動(dòng)都可能導(dǎo)致樣品內(nèi)部產(chǎn)生應(yīng)力，或樣品在自由切割點(diǎn)處突然移動(dòng)
- 穩(wěn)定的Omniprobe平臺(tái)使閑置時(shí)的振動(dòng)和漂移降至最低，降低了這些風(fēng)險(xiǎn)
端口安裝式設(shè)計(jì)
在不使用時(shí)完全縮回腔室，因此不會(huì)影響您的顯微鏡
- 不限制樣品大小
- 不限制樣品臺(tái)傾斜
- 不干擾其他探測(cè)器或附件
探頭電氣連接
包括用于電壓襯度成像的+/-10V電源
- 低噪音選項(xiàng)可與第三方電子設(shè)備結(jié)合，以執(zhí)行EBIC、EBAC和其他電氣測(cè)試方法。
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