HIOKI阻抗分析儀IM357
名稱:其他儀器與工具
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簡(jiǎn)介:HIOKI阻抗分析儀IM357。1臺(tái)IM3570即可進(jìn)行LCR、DCR測(cè)量和掃描測(cè)量。而且和HIOKI以往的LCR測(cè)試儀相比,大幅縮短了測(cè)量時(shí)間,進(jìn)一步提高了測(cè)量精度。 阻抗分析儀是以讓測(cè)量頻率和測(cè)量電壓連續(xù)變化的同時(shí),掃描測(cè)量被測(cè)物的特性...
HIOKI阻抗分析儀IM357。1臺(tái)IM3570即可進(jìn)行LCR、DCR測(cè)量和掃描測(cè)量。而且和HIOKI以往的LCR測(cè)試儀相比,大幅縮短了測(cè)量時(shí)間,進(jìn)一步提高了測(cè)量精度。 阻抗分析儀是以讓測(cè)量頻率和測(cè)量電壓連續(xù)變化的同時(shí),掃描測(cè)量被測(cè)物的特性為主要功能。可用于如線圈、變壓器、電容、壓電元件的開發(fā)和檢查等用途中。因此,阻抗分析儀對(duì)于復(fù)蘇中的電子零部件市場(chǎng),可以說是不可欠缺的測(cè)量?jī)x器。
※阻抗:交流電路中電流不容易流通的程度。單位為Ω。
HIOKI阻抗分析儀IM357產(chǎn)品的特點(diǎn)
1.不同測(cè)量條件下,1臺(tái)進(jìn)行高速測(cè)量
測(cè)量電容等零部件時(shí),有時(shí)在不同條件下(頻率、電平)測(cè)量多種測(cè)量項(xiàng)目,1條生產(chǎn)線中需要多臺(tái)測(cè)量?jī)x器。IM3570可再不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量,1臺(tái)儀器即可滿足所有要求。
2.檢查速度提高了2倍(跟以往型號(hào)相比)
和HIOKI的以往型號(hào)(3532-50)相比,大大縮短了測(cè)量時(shí)間。LCR模式下,以往機(jī)型一般需要5ms的測(cè)量時(shí)間,而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中,IM3570發(fā)揮了作用。
3.測(cè)量的反復(fù)精度提高了1位(※1mΩ,100次測(cè)量時(shí))
功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí),要求正確測(cè)量多個(gè)mΩ。IM3570在測(cè)量低阻抗時(shí)的精度比以往機(jī)型提高了1位,因此為用戶提供穩(wěn)定測(cè)量。
4.廣范圍的測(cè)量頻率
HIOKI阻抗分析儀IM357技術(shù)參數(shù):
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